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发表于 2019-9-5 01:05:05
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你这掩膜只是做分立器件吧。有明确制造集成电路的例子么?
第二章硅锗的区熔提纯
化学法提纯单晶硅
区熔法制备单晶硅
真空高阻区熔硅单晶生长技术的研究对策
真空FZ技术有利于硅中诸如磷、氧、碳这类杂质的蒸发,硅中除硼外的其他杂质分凝效应明显,可以通过慢速区熔,将K<<1的杂质分凝到晶体的尾部, 因而采用FZ法可获得纯度很高的硅单晶。
生产P型高阻区熔硅单晶,国内采用的是对区熔用多晶硅棒进行多次高真空区熔提纯的方式,而原料则选用从国外进口的标准级区熔用多晶硅棒。
硅中所含的各种杂质中,硼的分凝系数为0.9,因此在区熔过程中的分凝效果不明显。磷元素分凝系数为0.35,可表现出较明显的分凝作用。除了这两种杂质外,其它杂质在区熔过程中的分凝效应都非常明显。
区熔法超纯单晶硅数值模拟方案
在区熔法单晶硅生长过程中,熔体中存在着受重力作用而引起的自然对流,受熔体自由表面张力的驱动而产生的对流,另外还有旋转引起的强迫对流等多种对流作用,熔体的流动模式十分复杂。
生长的单晶硅质量受到很多传质、传热及对流因素的影响。例如生长材料的热扩散率、溶质扩散率、表面张力、熔点以及热传输系数等物理性质以及实际的工艺参数如单晶半径、拉晶速度等因素都 能影响晶体质量。为了获得高质量的单晶硅,同时也为了优化工艺设备,多数企业还有机构都希望借助先进的计算机技术手段来辅助工艺分析。
随着高速计算机的迅速发展,数值模拟方法为解决这一类复杂物理场的实际问题提供了一种重要手段。利用数值模拟技术对超纯单晶硅区熔法技术所涉及的复杂物理场进行分析和研究,可以快速有效的解决工艺问题,提高生产质量并优化工艺路线。计算机数值模拟的方法已经成为目前国内外广泛使用的分析手段。
3. 数值模拟解决方案
FEMAG/FZ是针对晶体生长区熔法(FZ)而开发的专用软件,可以帮助用户全面分析单晶硅区熔法生产过程中的热场、应力场、流场、缺陷、加热器功率等问题,并具有辅助工艺优化设计的功能。 |
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